TMS-2400      

      白光輪廓儀使用模塊化設計，可提供最詳細的表面粗糙度，紋理微觀結構形貌分析。高分辨率500萬像素相機可以確保實現各種復雜表面的測量。自動程序和自動轉臺聯動確保了物鏡之間的無縫過渡。先進的"對焦儀"和"焦點追蹤儀"，使表面在任何情況下都保持自動聚焦。采樣全自動的樣品定位平臺可實現拼接和自動化。

 精準測量 創新驅動   

測量應用

                                        為什么要用TopMap白光干涉儀來測量？         

                                        1.不具有接觸性、無破壞性和可重復性

                                        2.自幾乎任何表面的三維真實信息 

                                        3.精度、可靠性高，易于自動化 良好的橫向分辨率

                                        4.良好的橫向分辨率

                                        5.先進的垂直分辨率獨立于物鏡放大倍數

設備規格

設備規格

                                        優點                               

                                            ●納米級分辨率的高精度百光千涉儀

                                            ●連續掃描技術可達100mm垂直測量范圍

                                            ●配有自動"對焦儀"和"對焦跟蹤器"進行自動化

                                            ●電動X、Y、Z，傾斜調平臺和轉塔無需再重新定位

                                            ●用于缺陷擴展分析和文檔記錄的顏色信息模式

                                            ●模塊化，特定于應用程序的配置

結合三維數據和顏色信息，以實現驚人的視覺化和擴展分析